Результаты поиска: 4


  | 
Измерения параметров полупроводниковых материалов Москва : Металлургия, 1970
книга доступно для выдачи

Перейти к заказу выдачи
имеется в отделах (1 экз.) : наб  шифр: 621.315 К568


Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур Москва : Радио и связь, 1985
книга доступно для выдачи

Перейти к заказу выдачи
имеется в отделах (1 экз.) : наб  шифр: 621.315 Б28


Входной и технологический контроль материалов и структур в твердотельной СВЧ электронике (лабораторные работы)... Москва : Техносфера, 2017
e-книга

Читать онлайн после авторизации

Контроль новых технологий в твердотельной СВЧ электронике Москва : Техносфера, 2016
e-книга

Читать онлайн после авторизации