Каталог библиотеки

Информация о документе /vufind/Record/RUPSTUbooks164572

53
Л66
Лич Р. К. Инженерные основы измерений нанометровой точности : учебное издание : пер. с англ. / Р. К. Лич. - Долгопрудный: Интеллект, 2012.

всего в библиотеке: 2 экз.
отдел абонементов (ауд. 176) - 2 экз.

Инженерные основы измерений нанометровой точности

учебное издание пер. с англ.

Долгопрудный : Интеллект, 2012

Содерж.: Введение в метрологию для микро- и нанотехнологий; Основы измерений; Принципы разработки прецизионных средств измерений; Прослеживаемость длины при помощи интерферометрии; Измерение перемещений: Ёмкостные датчики; Индуктивные датчики; Оптические датчики: Оптоволоконные датчики; Калибровка д...
Посмотреть весь текст описания

Шифр издания
53 Л66
Главный автор:
Вид издания:
учебное издание
Язык:
русский
Постоянный адрес этой страницы:
http://elib.pstu.ru/vufind/Record/RUPSTUbooks164572
Упрощённое библиографическое описание:
Лич Р. К. Инженерные основы измерений нанометровой точности : учебное издание : пер. с англ. / Р. К. Лич. - Долгопрудный: Интеллект, 2012.
Ссылка для рабочих программ:
Теги:
Добавить тег
Тегов пока нет, Ваш тег будет первым!