Каталог библиотеки

Информация о документе /vufind/Record/RUPSTUbooks165565

539
А593
Альфорд Т. Л. Фундаментальные основы анализа наноплёнок : пер. с англ. / Т. Л. Альфорд, Л. К. Фельдман, Д. В. Майер. - Москва: Науч. мир, 2012.

всего в библиотеке: 2 экз.
отдел абонементов (ауд. 176) - 2 экз.

Фундаментальные основы анализа наноплёнок

пер. с англ.

Москва : Науч. мир, 2012

Содерж.:Основные понятия, единицы измерения; Атомные столкновения и спектрометрия обратного рассеяния; Получение распределений по глубине с помощью обратного рассеяния с использованием измерений потерь энергии легких ионов; Профили распыления и масс-спектрометрия вторичных ионов; Каналирование ионов...
Посмотреть весь текст описания

Шифр издания
539 А593
Вид издания:
общий
Язык:
русский
Постоянный адрес этой страницы:
http://elib.pstu.ru/vufind/Record/RUPSTUbooks165565
Упрощённое библиографическое описание:
Альфорд Т. Л. Фундаментальные основы анализа наноплёнок : пер. с англ. / Т. Л. Альфорд, Л. К. Фельдман, Д. В. Майер. - Москва: Науч. мир, 2012.
Ссылка для рабочих программ:
Теги:
Добавить тег
Тегов пока нет, Ваш тег будет первым!