Информация о документе /vufind/Record/RUPSTUbooks171533

537
Б912
Бургуэн Ж. Точечные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты : пер. с англ. / Ж. Бургуэн, М. Ланно. - Москва: Мир, 1985.

всего в библиотеке: 1 экз.
отдел абонементов (ауд. 176) - 1 экз.

Точечные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты

пер. с англ.

Москва : Мир, 1985

Содерж.: Разложение матриц Яна-Теллера; Электронный парамагнитный резонанс: Дисторсия Яна-Теллера; Испускание и рекомбинация носителей: Процессы Оже; Образование дефектов при облучении; Отжиг дефектов...
Посмотреть весь текст описания

Шифр издания
537 Б912
Главные авторы:
Вид издания:
смешанный
Язык:
русский
Постоянный адрес этой страницы:
http://elib.pstu.ru/vufind/Record/RUPSTUbooks171533
Упрощённое библиографическое описание:
Бургуэн Ж. Точечные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты : пер. с англ. / Ж. Бургуэн, М. Ланно. - Москва: Мир, 1985.
Ссылка для рабочих программ:
Теги:
Добавить тег
Тегов пока нет, Ваш тег будет первым!